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垂直度檢測尺校準裝置主體(ti) 采用穩定性很好的花崗岩,高精度測微頭,能夠調整水平的花崗岩底座,符合《JJF1110-2003建築工程質量檢測器組校準規範》。該校準裝置和XR-300Z型內(nei) 外直角檢測尺校準裝置用來檢測垂直檢測尺的示值誤差及內(nei) 外直角檢測尺的示值誤差。 該校準裝置采用比較法測量,由數顯測微頭行進距離與(yu) 回轉軸軸線、導軸軸線間距離L1之比組成標準角,比較測量垂直度檢測尺轉角β2的示值誤差。