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一、儀(yi) 器簡介:
XR-2000C型垂直度檢測尺校準裝置和XR-300Z型內(nei) 外直角檢測尺校準裝置主體(ti) 采用穩定性很好的花崗岩,高精度測微頭,能夠調整水平的花崗岩底座,符合《JJF1110-2003建築工程質量檢測器組校準規範》。
二、儀(yi) 器用途:
該校準裝置和XR-300Z型內(nei) 外直角檢測尺校準裝置用來檢測垂直檢測尺的示值誤差及內(nei) 外直角檢測尺的示值誤差。
三、結構原理:
該校準裝置采用比較法測量,由數顯測微頭行進距離與(yu) 回轉軸軸線、導軸軸線間距離L1之比組成標準角β1(sinβ1= L1/R),比較測量垂直度檢測尺轉角β2(sinβ2= L2/R)的示值誤差,其原理是采用數顯測微頭螺旋副等進傳(chuan) 動原理,使螺杆的回轉運動變為(wei) 直線運動,將垂直度檢測尺的角位移轉化為(wei) 直線位移,用線值表示示值誤差ΔL= L2-L1。
測量原理:L1:數顯測微頭行進距離mm;L2:垂直度檢測尺示值mm;β1:標準角;β2:垂直度檢測尺轉角;R:回轉軸軸線、導軸軸線間距離mm;ΔL:示值誤差:mm。
四、使用方法:
旋動測量裝置(數顯測微頭)在零位的兩(liang) 個(ge) 方向進行示值校準,分別在校準位置從(cong) 數顯測微頭上,給出相對於(yu) 校準點的標準值,從(cong) 垂直度檢測尺的指示表上讀數,讀數值減去標準值即為(wei) 相應點的示值誤差。
五、XR-2000C型垂直度檢測尺校準裝置技術參數:
1、型號:XR-2000C型;
2、高度:1980±1mm;
3、數顯測微頭分辨力:0.001mm/m;
4、數顯測微頭行程:0-50mm;
5、數顯測微頭誤差:±0.004mm。
六、XR-300Z型內(nei) 外直角檢測尺校準裝置技術參數:
1、型號:XR-300Z型;
2、高度:300mm;
3、寬度:250mm;
4、厚度:50mm;
5、工作麵的相互垂直度:0.01mm/300;
6、工作麵的平麵度:0.005mm;
7、數顯測微頭分辨力:0.001mm/m;
8、數顯測微頭行程:0-25mm;
9、數顯測微頭誤差:±0.004mm;
10、花崗岩平板的平麵度:0.005mm(800X300X150)mm;
11、花崗岩外形尺寸:(800X300X150)mm。
七、儀(yi) 器配置:
1、垂直度檢測尺校準裝置:1台;
2、內(nei) 外直角檢測尺校準裝置:1台;
3、水平調整支腳:1套;
4、說明書(shu) :1份;
5、出廠證書(shu) :1份;
6、保修卡:1份。
八、儀(yi) 器售後服務:
1、技術服務:
1.1 賣方負責設備的運輸、裝卸、安裝、調試,責任與(yu) 費用由乙方承擔。
1.2 設備出現故障後,乙方2小時回應客戶需求,七日內(nei) 完成維修任務。
1.3 設備安裝調試完成後,廠家負責技術培訓,保障甲方使用者能夠熟練掌握設備原理和設備使用方法及維護方法。
2、質量保證期:
2.1 保修期限為(wei) 自產(chan) 品驗收合格之日起12個(ge) 月。
2.2 設備終身維修、設備操控軟件免費升級,保修期外乙方提供維修服務隻收零部件成本費,其工作人員一切費用由乙方負責。
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